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满足PoC检测仪器的未来需求,试试集成式光学接收器 天天视讯

2023-03-26 12:01:54 来源:面包芯语


(资料图)

图1. IVD荧光检测系统。

基于荧光方法的诊断检测需要借助一个阈值去检测荧光。如果接收的荧光信号低于阈值水平,则无法确定样本中存在目标分析物。系统中的电子器件和一些其他因素可能产生背景噪声使得阈值增高。为降低阈值水平,同时持续稳定地获得更出色的灵敏度而不牺牲选择性,我们需要谨慎设计光学检测系统,确保信号链不会提高背景噪声的水平。

图2. 典型的PoC诊断荧光检测系统。

图3. 使用集成式光学前端的PoC检测系统。
图4. MAX86171的功能框图。

集成式光学前端具有明显优势,但是,如何衡量低光度荧光应用中光学前端的性能并不简单。单纯考量集成式光学前端的信噪比(SNR)并不能揭示光学接收器的真实性能,这是由于光照水平通常很低,因此光学前端的绝对本底噪声而非SNR才是关键参数。尽管1/f噪声分量会限制均值方法对本底噪声的改善程度,但我们还是可以基于荧光测量的时标采用均值方法降低本底噪声。因此,绝对暗电流噪声特别是闪烁噪声是主要的考量因素。许多集成式光学AFE的数据手册都未给出整个系统(包括PD)的暗电流噪声,因此我们需要单独测量该值。

图5. 采用MAX86171进行低光度测量。
图6. MAX86171的性能。

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